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Toray推出半導體封裝樹脂固化解析服務,解析翹曲與裂紋成因 | 三建產業資訊

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Toray推出半導體封裝樹脂固化解析服務,解析翹曲與裂紋成因

Toray推出半導體封裝樹脂固化解析服務,解析翹曲與裂紋成因

Toray於2026年5月20日宣布,已開發一套可針對熱固性樹脂中的環氧樹脂,從分子層級至材料整體特性進行綜合解析的方法,並開始提供熱固性樹脂固化現象的分析與解析服務。該方法結合快速掃描熱量測定(FSC)、質譜分析(MALDI-MS、TOF-SIMS)及分子動力學(MD)模擬等技術,從反應進程、分子結構及填料與樹脂界面等面向分析樹脂的固化過程。

該服務以玻璃轉移溫度(Tg)為主要觀察指標,透過模擬實際成型製程中的快速升溫與冷卻條件,追蹤固化進程及材料特性的變化。同時,藉由分析固化反應中的分子結構變化,可掌握交聯反應進行程度及分子結構特徵,並進一步分析分子結構對Tg及最終材料物性的影響;此外,也可從分子層級解析填料與樹脂界面附近的分子分布與相互作用。

透過對熱固性樹脂固化過程進行綜合解析,Toray可協助釐清半導體封裝材料的翹曲(Warpage)與裂紋(Crack)成因,並可應用於成型條件最佳化、降低缺陷,以及考量填料與樹脂組合的材料設計等用途。

資料來源:半導体封止材の反り対策に、TRCが樹脂硬化の総合解析サービス