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RDL形成製程!【日本專家】先端半導體封裝技術中使用的光阻特性與用途及再配線層(RDL)形成製程

  三建技術課程

  2026/09/15(二),09:30-16:30

   台南+線上+新竹

大綱內容

隨著生成式AI的進化,海量資料處理集中於資料中心與基地台,對半導體晶片提出了更高要求,必須以極高速度、低功耗及低損耗進行處理。因此,除了前段微細化(半導體前段製程),積層封裝的技術進展(先進封裝;後段製程)也受到高度關注。本講座首先介紹先進半導體封裝技術,說明核心技術——2.5D封裝技術(如CoWoS)的特性與課題。接著說明封裝技術中使用的各種光阻的特性、用途與剝離技術。最後介紹針對晶片間高密度互連所需的再布線層(RDL; Re-Distribution Layer)形成製程現狀、需求與課題,以及未來展望。

一、先進半導體封裝技術介紹、課題與未來展望
1-1 Flip-Chip BGA(FC-BGA)
1-2 Fan-Out Wafer-Level Package (FOWLP)
.Integrated Fan-Out(InFO)
1-3 2.5D 封裝技術
.矽中介層型(CoWoS-S、I-CubeS)
.有機中介層型(CoWoS-R、R-Cube)
.矽橋型(CoWoS-L、EMIB、I-CubeE)
1-4 3DIC

二、封裝技術中使用的光阻特性與用途
2-1 厚膜光阻
.厚膜光阻的用途
.厚膜光阻的性能與課題
.厚膜光阻的材料
2-2 幹膜光阻(Dry Film Resist)
2-3 錫焊阻焊層(Solder Resist)
2-4 保護膜用光阻
.鈍化膜(Passivation Layer)
.模塑封裝膜(Mold Compound Layer)
2-5 光阻剝離技術
.剝離液的種類與特性
.剝離液的用途

三、再布線層(RDL)形成製程現狀、需求、課題與未來展望

3-1 技術路線圖(Roadmap)
3-2 SAP方式
3-3 Damascene CMP方式
. Damascene CMP用圖形形成方法
.有機介電材料

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  • 電話:02-25364647
  • 信箱:sumken@sum-ken.com

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