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【日本專家】CMP後清洗技術與化學藥液應用實務 | 主題資料庫 | 三建產業資訊

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IC製造

【日本專家】CMP後清洗技術與化學藥液應用實務

3 小時 25T00146
CMP 後清洗 Wafer清洗 半導體清洗 晶圓清洗 Marangoni乾燥 Zeta電位清洗 清洗藥液選擇 清洗刷 Roll brush CMP設備 清洗設備 AMAT 荏原 化學機械研磨 平坦化 晶圓乾燥 清洗缺陷控制
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大綱內容

一、CMP所面臨的整體情況 二、CMP設備構成:AMAT、荏原的設備構成 三、CMP後清洗模組概述:AMAT、荏原的清洗模組 四、清洗需去除的物質與對應的去除方式 .顆粒(金屬污染、有機污染) .物理…

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