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【日本專家】半導體Risist基礎與材料設計及環保型新型Risist去除技術 | 主題資料庫 | 三建產業資訊

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IC製造

【日本專家】半導體Risist基礎與材料設計及環保型新型Risist去除技術

(114包)2025年2月20日(木) 10:30~16:30 小時 25T00124
三建 SUMKEN 光阻技術 Novolak正型光阻劑 光阻劑顯影分析儀 化學增幅正型光阻劑 樹脂 溶解抑制劑 酸發生劑 i線厚膜光阻劑 光阻劑去除 臭氧 氫自由基 微奈米氣泡 ozone micro bubble EUV 極紫外線 曝光 環保
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詳解光阻材料(感光性樹脂)與製程相關內容,講解Novolak正型光阻劑及極紫外線(EUV)光阻劑的材料設計、感光度與解析度提升技術、化学増幅系3成分(包含基樹脂、溶解抑制劑、酸發生劑)正型光阻劑中的化…

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