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【日本專家】高性能CMP的基礎與應用關鍵技術 | 主題資料庫 | 三建產業資訊

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IC製造

【日本專家】高性能CMP的基礎與應用關鍵技術

6 小時 24T00084
三建 平坦化 CMP Slurry 研磨 拋光 Pad 研磨墊 半導體 耗材 黏著 清洗 Feret
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半導體製造中各種CMP過程的特點,已成為不可或缺的關鍵,隨著製程數量的增加,對CMP性能的要求也日益提高。本課題將全面解說CMP技術的基礎至應用,涵蓋設備與消耗材料、應用製程、平坦化機制、材料去除機制…

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