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【日本專家】EV車用半導體可靠性、SiC元件挑戰與國際標準動向 | 主題資料庫 | 三建產業資訊

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IC封測 電動車/車電零組件/電池儲能

【日本專家】EV車用半導體可靠性、SiC元件挑戰與國際標準動向

6 小時 24T00076
EV 電動車 SiC 碳化矽 可靠性 AEC-Q100 AEC-Q100 EDR-4708 認證 加速測試
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★將詳細說明如何執行符合美國AEC-Q100標準的測試,以及日本版AEC-Q100規範EDR-4708的使用方法! ★深入探討電動車(EV)用功率半導體和SiC(碳化矽)元件的可靠性問題,並介紹最新話…

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